Equipos Disponibles

Microscopio electrónico de barrido de alta resolución:

Nova Nano SEM230 (FEG-SEM)

Es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) que alcanza una resolución de imagen ultra alta sin las restricciones de tamaño de muestra de un convencional "in-lens" FE-SEM gracias al diseño avanzado de la óptica electrónica. La fuente de emisión del NanoSEM permite lograr una alta resolución de imagen en un amplio rango de kV, tanto con corrientes bajas (imágenes de alta resolución) como altas (imágenes microanalíticas). La obtención de imágenes de electrones secundarios (SE) se puede realizar tanto en modo de campo libre como de inmersión para obtener imágenes completas de baja a alta resolución de una variedad de muestras. El Nova Nano SEM 230 está configurado con un detector Bruker SDD-EDS y se puede equipar con un detector de electrones retrodispersados para la visualización conveniente de las diferencias de composición en la superficie de la muestra. Para trabajos STEM especializados, también hay disponible un detector STEM.

Características del microscopio

Esta es una herramienta de alta resolución con un detector a "través de la lente" (The through-the-lens (TLD) detector) con los aumentos de 100.000x.
Fuente de electrones de emisión de campo, con corriente de sonda de hasta 10 nA (modo de alta resolución), 22 nA (modo analítico)
Voltajes de aceleración del haz seleccionables de 200 voltios a 30 kilovoltios
La opción de desaceleración del haz para minimizar el daño del haz a muestras sensibles, energía de impacto del haz de tan solo 50 voltios
Dispone de 4 detectores de señal de imagen de electrones:

Detector de electrones secundarios en lente (también conocido como Detector de electrones secundarios (SE) de "inmersión" o "a través de la lente" (TLD), TLD-SE);
Detector BSE en lente (detector a través de la lente, electrones retrodispersados, TLD-BSE);
Detector Everhart-Thornley (ETD) (detector convencional "debajo de la lente");
Detector de electrones transmitidos por barrido de estado sólido (STEM).

Resolución a una distancia de trabajo óptima:
1,0 nm a 15 kV (TLD-SE)
1,6 nm a 1 kV (TLD-SE)
0,8 nm a 30 kV (STEM)

Espectrómetro de dispersión de energía de rayos X (EDS) para espectros elementales y mapeo.

Microscopio electrónico de barrido Thermo Scientific PrismaE (SEM)

El microscopio electrónico de barrido (SEM) Thermo Scientific Prisma E con sus modos de alto vacío, bajo vacío y SEM ambiental (ESEM), está completamente equipado para analizar muestras cargadas, desgasificadas o difíciles de analizar. Con el modo SEM ambiental (ESEM) del Prisma E SEM, se pueden obtener imágenes de muestras incluso si están calientes, sucias, desgasificadas o húmedas. El modo de bajo vacío y ESEM permite la obtención de imágenes y el análisis sin carga de muestras no conductoras y/o hidratadas.

Características:

Navegación de muestras simplificada con la cámara Nav-Cam
Excelente calidad de imagen con modos de escaneo avanzados y desaceleración del haz
Imágenes simultáneas de electrones secundarios (SE) y electrones retrodispersados (BSE) en todos los modos de operación
Análisis elemental con la tecnología Thermo ScientificTM ColorSEM™
Compatible con una amplia gama de muestras gracias a diversos modos de vacío
Capacidad de obtener imágenes de materiales en su estado natural (in-situ) con el modo ambiental
Experimentos dinámicos de fácil control con etapas de calentamiento/enfriamiento integradas
Amplia selección de detectores y accesorios que incluyen microscopía electrónica de transmisión por escaneo (STEM).

Prisma E SEM detecta hasta cuatro señales simultáneamente de cualquier combinación de los detectores o segmentos de detector disponibles:

ETD: detector de SE Everhart-Thornley
Detector de SE de bajo vacío (LVD)
SED gaseoso (GSED) (usado en modo ESEM)
Cámara IR para ver la muestra en la cámara
Cámara Thermo Scientific™ Nav-Cam™: cámara óptica en color para navegación de muestras
DBS: detector de retrodispersión direccional; segmentado BSED retráctil
DBS-GAD: BSED analítico gaseoso montado en lente
ESEM-GAD para detección simultánea de SE y BSE en modo ESEM a alta presión
STEM 3+: detector segmentado retráctil (BF, DF, HADF, HAADF)
Detector Thermo Scientific™ WetSTEM™: STEM integrado con etapa de enfriamiento para la observación de muestras húmedas delgadas
*Detectores ETD, Bajo vacío SED, LFD (secundarios en modo ambiental, IR cámara, STEM 3+, ESEMGAD.

Parámetros del haz de electrones:

Rango de corriente del haz: hasta 2 µA, ajustable de forma continua
Rango de voltaje de aceleración: 200 V – 30 kV
Aumento: 5 a 1 000 000×

Resolución del haz de electrones:

Modo de alto vacío

3,0 nm a 30 kV (SE)
4,0 nm a 30 kV (BSE)
8,0 nm a 3 kV (SE)

Modo de alto vacío con desaceleración del haz

7,0 nm a 3 kV (modo BD + DBS)

Modo de bajo vacío

3,0 nm a 30 kV (SE)
4,0 nm a 30 kV (BSE)
10 nm a 3 kV (SE)

Modo ESEM

3,0 nm a 30 kV (SE)

Accesorios in situ:

-Dispositivo Peltier de -20 °C a +55 °C controlado por software
-Horno para el modo ESEM (hasta1000 °C) controlada por software

Microscopio electrónico de barrido Apreo 2 S LoVac

EL MICROSCOPIO ESTARÁ DISPONIBLE EN EL JUNIO DE 2025

El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de ti-po Schottky (FESEM) combina capacidades de resolución ultra alta tanto en al-to voltaje como en bajo con una lente electrostática y un modo de trabajo en bajo vacío con compensación de carga en material no conductor.

El instrumento presenta desaceleración del haz y detección única en la lente que ofrece un contraste y una versatilidad sin precedentes a los investigadores que trabajan con una gran variedad de materiales y dispositivos.

Preparación de Muestras

La Unidad dispone de diversos equipos para preparación de las muestras tanto inorgánicas como orgánicas (diferentes pulidoras, fresado por iones de alta energía (Adelgazar Iónico), y para muestras biológicas un secador de punto crítico (Leica CPD 300), también dis-pone de metalizador de bajo vacío marca Leica EM ACE200 que permite realizar los recubri-mientos metálicos de muestras con Oro, Platino y Carbón, controlando su espesor. Además, es posible realizar análisis digital de imagen con software libre o con licencia, como también in-formes con los resultados obtenidos.